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载网支持膜的选择标准是什么?

载网支持膜的选择标准：

载网支持膜，俗称铜网，或者碳网。其主要分为三个部分：下层是具有一定目数的金属网，可以是铜网、镍网、金网等。金属网上面为有机层（方华膜），上面为一层碳膜。根据测试和样品需求不同，载网的选择也不尽相同。载网有：简单载网支持膜、碳支持膜、微栅网、纯碳支持膜，选择合适的载网，首先考虑样品的性质和溶剂的类别。如果是体系的纳米粒子，可以选择纯碳支持膜（根据经验，只要溶剂不是或者，普通的碳支持膜也可满足要求)。如果样品是分散于乙醇或者中的粉末样品，则选择普通碳支持膜即可。

扫描电子显微镜通常至少有一个检测器

当一束超细高能入射电子轰击和扫描样品表面时，激发区会产生二次电子、俄歇电子、特征X射线和连续光谱X射线、背散射电子、透射电子以及可见、紫外和红外区域的电磁辐射。同时可以产生电子-空穴对、晶格振动(声子)和电子振荡(等离子体)。扫描电子显微镜通常至少有一个检测器(通常是SEI)，其中许多配备了额外的检测器，如EDS、BSE、WDS、EBSD、CL等。但特定仪器的特殊功能强烈依赖于合适的探测器，探测器的安装角度，即样品分析室的设计，对分析效果影响很大。为了获得较高的扫描电子显微镜分析质量，我们应该对各种功能机制有深入的了解。

扫描电子显微镜(SEM)——一种电子光学仪器

扫描电子显微镜（SEM）——一种电子光学仪器，它利用很细的电子束扫描被观察样品的表面，收集电子束与样品相互作用产生的一系列电子信息，并对图像进行变换和放大。它是研究三维表面结构的有用工具。在高真空镜筒中，电子产生的电子束通过电子会聚透镜聚焦成细束，然后逐点扫描轰击样品表面。产生一系列电子信息（二次电子、背反射电子、透射电子、吸收电子等），检测器接收各种电子信号，经电子放大器放大后输入到显像管控制的显像管。显像管网格。