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扫描电子显微镜的原理
扫描电子显微镜(SEM)是介于透射电镜还有光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,能够直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。主要使用于各种材料的微观分析还有成分分析,已经成为材料科学、生命科学以及各生产部门品质控制中不可或缺的工具之一。
扫描电子显微镜的结构包含电子光学系统、图像显示与记录系统、真空系统还有X射线能谱分析系统。
扫描电镜对样品的要求
(1)样品必须是无毒、无性的物质,以保证工作人员的人身安全;
(2)样品可以是块状、片状、纤维状,也可以是颗粒或粉末状,无论是什么样的样品都不能是有机挥发物和含有水分,如果将含有水分的样品放在镜筒内能产生2种严重不良后果:一是当真空达不到要求强行通高压时,其产生的水蒸汽遭遇高能电子生电离而放电引起束流大幅度波动,使所成的像模糊,或根本不能成像;二是造成镜筒污染;三是损坏灯丝,天津金属样品电镜测试,当高能电压通过灯丝时,温度高达2000Ο,碰到水蒸汽而氧化变质或熔断,因此,应先烘干样品中的水分;
(3)无论是块状样品,还是粉末颗粒状样品,其化学、物理性质要稳定,在高真空中的电子束照射下,都要能保持成分稳定和形态不变;
(4)表面受到污染的样品,要在不破坏样品表面结构的前提下,进行适当清洗、烘干;
(5)无论是样品的表面,还是样品新断开的断口或断面,一般不需要进行处理,以保持全自动扫描电子显微镜原始的结构状态;
扫描电子显微镜的原理介绍: 扫描电子显微镜是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面,从而获得样品信息的电子显微镜。因此其使用电子束为照明源,电子束在样品表面扫描,利用电子还有物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。判断扫描电镜性能主要根据分辨率还有有效放大倍数。分辨率也就是可以分辨的小距离。扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜与光学显微镜之间的一种观察手段。它是运用聚焦十分窄的高能电子束来扫描样品,通过光束合物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大还有再成像为了达到对物质微观形貌表征的目的。