天津不导电样品电镜分析-天津9d实验室(在线咨询)

描电镜和透射电镜对样品的要求

　1、扫描电镜

　扫描电镜制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察，看到的只有表面加工损伤，一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀，才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况，同时引入部分人为的干扰，对样品中厚度的薄层来说，造成的误差更大。

　2、透射电镜

　由于透射电镜得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度，因此样品观测部位要非常的薄，例如存储器器件的透射电镜样品一般只能有10～100nm的厚度，这给透射电镜制样带来很大的难度。初学者在制样过程中用手工或者机械控制磨制的成品率不高，一旦过度削磨则使该样品报废。透射电镜制样的另一个问题是观测点的定位，一般的制样只能获得10mm量级的薄的观测范围，这在需要分析的时候，目标往往落在观测范围之外。目前比较理想的解决方法是通过聚焦离子束刻蚀(FIB)来进行精细加工。

扫描电子显微镜的原理

扫描电子显微镜(SEM)是介于透射电镜还有光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，能够直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。主要使用于各种材料的微观分析还有成分分析，天津不导电样品电镜分析，已经成为材料科学、生命科学以及各生产部门品质控制中不可或缺的工具之一。

　扫描电子显微镜的结构包含电子光学系统、图像显示与记录系统、真空系统还有X射线能谱分析系统。

简述什么是扫描电子显微镜

扫描电子显微镜是一种应用于高分辨率微区形貌分析的大型周详仪器。拥有分辨率极高、景深大、立体感极强、成像直观、扩大倍数范围宽还有待测样品能够在三维空间内举行歪斜与扭转等特征。除此之外还拥有能够测样品类别多样，基本上不毁伤以及原始样品还有能够同一时间取得结构、成份、形貌以及结晶学信息等好处。现在，扫描电子显微镜已经被普遍使用于各个领域，比方说：生命科学领域、物理学领域、化学领域、法律领域、地球科学领域、材料学领域还有工业制造等领域的微观研究，仅仅在地球科学方面就包含了矿床学、沉积学、结晶学、地球化学、矿物学、工程地质微体古生物、天文地质、宝石学、油气地质以及构造地质等。