9d实验室电镜测试-天津不导电样品电镜分析

扫描电子显微镜的原理

扫描电子显微镜(SEM)是介于透射电镜还有光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，能够直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。主要使用于各种材料的微观分析还有成分分析，已经成为材料科学、生命科学以及各生产部门品质控制中不可或缺的工具之一。

　扫描电子显微镜的结构包含电子光学系统、图像显示与记录系统、真空系统还有X射线能谱分析系统。

扫描电镜成功进入***制造领域

首先，电镜的分辨率是一项重要的参数， 台式扫描电镜大样品室版Phenom XL系列具有14nm的分辨率，能够为客户提供高质量的电子图像；

其次，电镜配置有双探头，能够呈现背散射图像和二次电子图像，为客户提供原子序数衬度图像和形貌衬度图像，满足不同的成像需求；

其三，天津不导电样品电镜分析， 电镜对样品的导电性要求非常宽松，即使是不导电的样品，也可直接进行观察而不需喷金，这就大大扩宽了电镜的测试能力，为上述多类生物样品的观察创造了机会 ；

其四，台式扫描电镜大样品室版Phenom XL具有100mm*100mm*40mm的样品空间，可一次放置36个直径为半英寸的样品台，大幅提升测试效率。

扫描电子显微镜的结构

为透射电镜是TE进行成像的，这就要求样品的厚度一定要确保在电子束可以穿透的尺寸范围内。因此就需要通过各种较为繁杂的样品制备手段把大尺寸样品转变到透射电镜能给接受的程度。

可不可以直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像，成为科学家追求的目标。

通过努力，这种想法已成为现实——扫描电子显微镜(ScanningElectronicMicroscopy，SEM)。

扫描电子显微镜（SEM）——运用特别细的电子束在被观测样品表面上进行扫描，通过分别收集电子束和样品相互作用产生的一系列电子信息，通过转换、放大而成像的电子光学仪器。是探索研究三维表层构造很有帮助的工具。