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扫描电镜的相关应用

一点，在大视场、低放大倍数下观察样品，用扫描电镜观察试样的视场大：大视场、低倍数观察样品的形貌对有些领域是非常有必要的，比方说在侦察以及考古方面。

其次第二点，进行从高倍到低倍的连续观察：扫描电镜的放大倍数范围很宽（从五到二十万倍连续可调），并且一次聚焦好后便可以从高倍到低倍、从低倍到高倍连续观察，不用重新聚焦，这对进行分析十分便利。

第三点，观察生物试样：因为电子照射面发生试样的损伤与污染程度很小，这一点对观察一些生物试样尤为重要。

第四点，深圳透射电镜测试，进行动态观察：假如在样品室内装有加热、冷却、弯曲、拉伸与离子刻蚀等附件，那么就能够观察相变、断烈等动态的变化过程。

第五点，从试样表面形貌获得多方面资料由于扫描电子象不是同时记录的，它是分解为近百万个逐次依此记录构成的。让扫描电镜除了观察表面形貌外还能进行成分以及元素的分析，还有通过电子通道花样进行结晶学分析，选区尺寸可以从10μm到3μm。

扫描电镜的类型各式各样，不同类型的扫描电镜可能会存在性能上的差异。按照电子种类可以分成三种，种是场发射电子，第二种是钨丝，第三种是六硼化镧。此中，场发射扫描电镜按照光源性能可以分成冷场发射扫描电子显微镜以及热场发射扫描电镜。冷场发射扫描电子显微镜对真空条件要求十分高，束流不稳固，透射电镜测试价格，发射体使用寿命比较短，需要固定时间对针尖进行清洁，只局限于单一的图像观察，使用范围有限；而且热场发射扫描电子显微镜不单单连续工作时间长，还可以和多种附件搭配实现综合分析。在地质领域当中，我们不仅需要对样品进行初步形貌观察，透射电镜测试机构，还需要结合分析仪对样品的其它性质进行分析，因此热场发射扫描电镜的使用更加广泛。

扫描电镜和透射电镜的区别

扫描电镜和透射电镜的工作原理

从相似点开始， 这两种设备都使用电子来获取样品的图像。他们的主要组成部分是相同的;

· 电子源;

· 电磁和静电透镜控制电子束的形状和轨迹;

现在转向这两种设备的差异性。 扫描电镜（SEM）使用一组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子（ 详细了解SEM中检测到的不同类型的电子 ）。

而透射电镜（TEM）是使用透射电子，收集透过样品的电子。 因此，透射电镜（TEM）提供了样品的内部结构，如晶体结构，形态和应力状态信息，而扫描电镜（SEM）则提供了样品表面及其组成的信息。