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扫描电子显微镜的基本结构：

　扫描电子显微镜是运用材料表面微区的特征（如形貌、原子序数、化学成分或者晶体结构等）的差异，在电子束作用下通过试样不同区域产生不同的亮度差异，从而获得具有一定衬度的图像。成像信号是二次电子、背散射电子或者吸收电子，此中二次电子是主要的成像信号。高能电子束轰击样品表面，激发出样品表面的各种物理信号，扫描电镜分析机构，再利用不同的接受物理信号转换成图像信息。

　扫描电子显微镜除了可以测试二次电子图像之外，青岛扫描电镜分析，还可以测试背散射电子、透射电子、特征x射线以及阴极发光等信号图像。它的成像原理和二次电子像一样。在进行扫描电子显微镜观察之前，要对样品作相应的处理。

简述什么是扫描电子显微镜

扫描电子显微镜是一种应用于高分辨率微区形貌分析的大型周详仪器。拥有分辨率极高、景深大、立体感极强、成像直观、扩大倍数范围宽还有待测样品能够在三维空间内举行歪斜与扭转等特征。除此之外还拥有能够测样品类别多样，基本上不毁伤以及原始样品还有能够同一时间取得结构、成份、形貌以及结晶学信息等好处。现在，扫描电子显微镜已经被普遍使用于各个领域，扫描电镜分析费用，比方说：生命科学领域、物理学领域、化学领域、法律领域、地球科学领域、材料学领域还有工业制造等领域的微观研究，扫描电镜分析中心，仅仅在地球科学方面就包含了矿床学、沉积学、结晶学、地球化学、矿物学、工程地质微体古生物、天文地质、宝石学、油气地质以及构造地质等。

　扫描电子显微镜的原理介绍： 　　扫描电子显微镜是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面，从而获得样品信息的电子显微镜。因此其使用电子束为照明源，电子束在样品表面扫描，利用电子还有物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。判断扫描电镜性能主要根据分辨率还有有效放大倍数。分辨率也就是可以分辨的小距离。扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜与光学显微镜之间的一种观察手段。它是运用聚焦十分窄的高能电子束来扫描样品，通过光束合物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大还有再成像为了达到对物质微观形貌表征的目的。