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扫描电镜和透射电镜的区别
扫描电镜和透射电镜的工作原理
从相似点开始, 这两种设备都使用电子来获取样品的图像。他们的主要组成部分是相同的;
· 电子源;
· 电磁和静电透镜控制电子束的形状和轨迹;
现在转向这两种设备的差异性。 扫描电镜(SEM)使用一组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子( 详细了解SEM中检测到的不同类型的电子 )。
而透射电镜(TEM)是使用透射电子,收集透过样品的电子。 因此,透射电镜(TEM)提供了样品的内部结构,如晶体结构,形态和应力状态信息,而扫描电镜(SEM)则提供了样品表面及其组成的信息。
扫描电镜可实现更多功能
扫描电镜可简化从样品观察、图像确认到生成报告等一系列操作过程,大幅提高了工作效率,还标配了报告生成功能,观察结束后可十分轻松地将拍摄的图像制作成格式的报告,此外,选配项还可实现更多功能。
扫描电镜的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察,优化提供5kV、10kV、15kV三种不同电压下的观察模式,每种模式下电流4档可调,并配备4分割背散射探测器,可四个不同方向的图像信息,对样品进行多种模式成像。扫描电镜具有全新的导航功能,同时,电镜图片可以报告形式导出,配备大型样品仓,天津环境场扫描电镜测试,可容纳大样品直径80mm,厚度50mm。
扫描电镜是一台、功能强大的高分辨应用型扫描电子显微镜。系统采用多接口的大样品室和艺术级的物镜设计,提供高真空成像功能,可对各种材料表面作分析。并且具有业界的X射线分析条件,样品台为五轴全自动控制,标准的率无油涡轮分子泵满足快速的样品更换和无污染成像分析。
扫描电子显微镜的原理介绍: 扫描电子显微镜是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面,从而获得样品信息的电子显微镜。因此其使用电子束为照明源,电子束在样品表面扫描,利用电子还有物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。判断扫描电镜性能主要根据分辨率还有有效放大倍数。分辨率也就是可以分辨的小距离。扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜与光学显微镜之间的一种观察手段。它是运用聚焦十分窄的高能电子束来扫描样品,通过光束合物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大还有再成像为了达到对物质微观形貌表征的目的。