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简述什么是扫描电子显微镜

扫描电子显微镜（SEM）其实就是一种介于光学显微镜与透射电子显微镜之间的一种观察手法。它运用聚焦的极窄的高能电子束来扫描样品，经过物资和光束间的互相作用，天津扫描电镜分析，来激起种种物理信息，对这些信息、缩小、再成像是为了达到对物资微观形貌表征的目的。新款的扫描电子显微镜的分辨率能够达到一纳米；缩小倍数能够达到三十万倍及以上不间断进行调节；而且视线大，景深大，成像立体效果佳。除此之外，扫描电子显微镜以及其余分析仪器相互结合，能够做到观察微观形貌的同一时间进行物质微区成份分析。扫描电子显微镜在石墨、岩土、纳米材料以及陶瓷等的研发上有普遍使用。所以扫描电子显微镜在科学研究行业拥有极大的功用。

描电镜和透射电镜对样品的要求

　1、扫描电镜

　扫描电镜制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，天津扫描电镜分析中心，从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察，看到的只有表面加工损伤，天津扫描电镜分析机构，一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀，才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况，同时引入部分人为的干扰，对样品中厚度的薄层来说，造成的误差更大。

　2、透射电镜

　由于透射电镜得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度，因此样品观测部位要非常的薄，例如存储器器件的透射电镜样品一般只能有10～100nm的厚度，这给透射电镜制样带来很大的难度。初学者在制样过程中用手工或者机械控制磨制的成品率不高，一旦过度削磨则使该样品报废。透射电镜制样的另一个问题是观测点的定位，一般的制样只能获得10mm量级的薄的观测范围，这在需要分析的时候，目标往往落在观测范围之外。目前比较理想的解决方法是通过聚焦离子束刻蚀(FIB)来进行精细加工。

扫描电镜人性化软件操作

台式扫描电镜采用整块材质中间掏空制成，从而在同类产品中具有好的束流稳定性，受外界环境的干扰更小，保证高分辨率及获得细节更加丰富的图像，采用几块材质拼接而成，受外界干扰较大，束流稳定性 较差，天津扫描电镜分析价格，自然其图像性能也大受影响。

台式扫描电镜主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用汇聚得很细小的电子束在样品表面扫描，通过电子束与样品的相互作用产生各种信号（如二次电子信号）来获得材料表面细节信息。台式扫描电镜由电子光学系统、信号收集及显示系统、真空系统和电源系统组成。其中，电子光学系统又由电子、电磁透镜、扫描线圈和样品室等部件组成。工作时，电子发射出的电子束被电磁透镜汇聚成极细的 电子束，在样品表面进行扫描，激发样品表面产生二次电子。二次电子由探测器收集，并被闪烁体转变成光信号