企业等级: | 普通会员 |
经营模式: | 生产加工 |
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扫描电子显微镜的结构
为透射电镜是TE进行成像的,这就要求样品的厚度一定要确保在电子束可以穿透的尺寸范围内。因此就需要通过各种较为繁杂的样品制备手段把大尺寸样品转变到透射电镜能给接受的程度。
可不可以直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像,成为科学家追求的目标。
通过努力,这种想法已成为现实——扫描电子显微镜(ScanningElectronicMicroscopy,SEM)。
扫描电子显微镜(SEM)——运用特别细的电子束在被观测样品表面上进行扫描,通过分别收集电子束和样品相互作用产生的一系列电子信息,通过转换、放大而成像的电子光学仪器。是探索研究三维表层构造很有帮助的工具。
台式扫描电镜对生态环境的研究
随着科技的进步,城市化进程逐渐扩大,人类的生活水平不断提高,废水、废气和固体废弃物的数量逐年递增。今天,当务之急是如何处理这些废弃物。
微生物处理废弃物法就是利用微生物自身的新陈代谢对废弃物进行分解作用,使其无害化。由于微生物处理方法投资少,简便易行,不会形成二次污染,既可消除环境污染,又可变废为宝,所以,受到越来越多的研究人员的关注。
在研究过程中,不仅需要观察微生物的基本形貌,天津生物样品电镜测试,对其进行分类和筛选,还需要观察一些固体废物在降解或能源化过程中的形貌变化,这就需要借助扫描电镜对样品形貌进行观察。
台式扫描电镜高分辨率版Phenom Pro拥有150000倍放大倍数和8 nm分辨率,可以配备背散射探头和二次电子探头,对放置环境要求较低且操作便捷。电镜内部配备有自动马达样品台和两个导航界面,研究人员可以较容易的找到样品需要观察的位置,并且,学生也可以轻松上手操作电镜。
描电镜和透射电镜对样品的要求
1、扫描电镜
扫描电镜制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来,从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察,看到的只有表面加工损伤,一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀,才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况,同时引入部分人为的干扰,对样品中厚度的薄层来说,造成的误差更大。
2、透射电镜
由于透射电镜得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,例如存储器器件的透射电镜样品一般只能有10~100nm的厚度,这给透射电镜制样带来很大的难度。初学者在制样过程中用手工或者机械控制磨制的成品率不高,一旦过度削磨则使该样品报废。透射电镜制样的另一个问题是观测点的定位,一般的制样只能获得10mm量级的薄的观测范围,这在需要分析的时候,目标往往落在观测范围之外。目前比较理想的解决方法是通过聚焦离子束刻蚀(FIB)来进行精细加工。