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扫描电子显微镜的结构
为透射电镜是TE进行成像的,这就要求样品的厚度一定要确保在电子束可以穿透的尺寸范围内。因此就需要通过各种较为繁杂的样品制备手段把大尺寸样品转变到透射电镜能给接受的程度。
可不可以直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像,成为科学家追求的目标。
通过努力,这种想法已成为现实——扫描电子显微镜(ScanningElectronicMicroscopy,SEM)。
扫描电子显微镜(SEM)——运用特别细的电子束在被观测样品表面上进行扫描,通过分别收集电子束和样品相互作用产生的一系列电子信息,通过转换、放大而成像的电子光学仪器。是探索研究三维表层构造很有帮助的工具。
扫描电子显微镜的工作原理
从电子阴极发出的直径20μm~30μm的电子束,受到阴阳极之间加速电压的作用,射向镜筒,经过聚光镜以及物镜的会聚作用,缩小成直径约几毫微米的电子探针。在物镜上部的扫描线圈的作用下,电子探针在样品表面作光栅状扫描而且激发出多种电子信号。这些电子信号被相应的检测器检测,通过放大、转换,变成电压信号,之后被送到显像管的栅极上并且调制显像管的亮度。显像管中的电子束在荧光屏上也作光栅状扫描,并且这种扫描运动与样品表面的电子束的扫描运动严格同步,这样即获得衬度与所接收信号强度相对应的扫描电子像,这种图象反映了样品表面的形貌特征。第二节扫描电镜生物样品制备技术大多数生物样品都含有水分,而且比较柔软,所以,天津金属样品电镜测试,当我们在进行扫描电镜观察之前,一定要对样品作相应的处理。扫描电镜样品制备的主要步骤:尽可能让样品的表面结构储存好,没有变形还有污染,样品干燥并且有优良导电性能。
扫描电子显微镜的相关应用
一点,扫描电子显微镜可以观察纳米材料:它具备很高的分辨率,能够观察组成材料的颗粒或者微晶尺寸在零点一至一百纳米范围里,在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。
其次第二点,材料断口的分析:扫描电子显微镜景深大,图象富立体感,并且具备有三维形态,可以从断口形貌呈现材料断裂的本质,在材料断裂原因的分析,事故原因的分析还有工艺合理性的判定等方面是一个强有力的手段。
第三点,直接观察大试样的原始表面:扫描电子显微镜可以直接观察直径一百毫米,高五十毫米,或更大尺寸的试样,对试样的形状无任何的限制,粗糙表面也可以进行观察,这样就免除了制备样品的麻烦,并且可以真实观察试样本身物质成分不同的衬度(背散射电子象)。
第四点,观察厚试样:它在观察厚试样的时候,可以得到高的分辨率会还有真实的形貌。
第五点,能够观察试样的各个区域的细节:试样在样品室中可动的范围十分大,能够在三度空间内有六个自由度运动(也就是三度空间平移、三度空间旋转),这对观察不规则形状试样的各个区域带来很大的便利。