天津不导电样品电镜测试-9d实验室电镜测试(在线咨询)

SEM扫描电子显微镜与透射电镜的区别

透射扫描电子显微镜是用透过样品的电子束让其成像的电子显微镜，在一个高真空系统当中，由电子发射电子束，穿过被研究的样品，通过电子透镜聚焦放大，在荧光屏上显示出高度放大的物像，经常使用于观察那些用普通显微镜所不可以分辨的细微物质结构。

　扫描电子显微镜是用电子探针对样品表面扫描使其成像的电子显微镜。使用电子束在样品表面扫描激发二次电子成像的电子显微镜。主要用于研究样品表面的形貌还有成分。

　透射电镜和扫描电镜区别简单的来讲就是：扫描电镜是观察样品表面的结构特征，但是透射电镜则是观察样品的内部精细结构。

扫描电子显微镜的相关应用

一点，扫描电子显微镜可以观察纳米材料：它具备很高的分辨率，能够观察组成材料的颗粒或者微晶尺寸在零点一至一百纳米范围里，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。

其次第二点，材料断口的分析：扫描电子显微镜景深大，图象富立体感，天津不导电样品电镜测试，并且具备有三维形态，可以从断口形貌呈现材料断裂的本质，在材料断裂原因的分析，事故原因的分析还有工艺合理性的判定等方面是一个强有力的手段。

第三点，直接观察大试样的原始表面：扫描电子显微镜可以直接观察直径一百毫米，高五十毫米，或更大尺寸的试样，对试样的形状无任何的限制，粗糙表面也可以进行观察，这样就免除了制备样品的麻烦，并且可以真实观察试样本身物质成分不同的衬度（背散射电子象）。

第四点，观察厚试样：它在观察厚试样的时候，可以得到高的分辨率会还有真实的形貌。

第五点，能够观察试样的各个区域的细节：试样在样品室中可动的范围十分大，能够在三度空间内有六个自由度运动（也就是三度空间平移、三度空间旋转），这对观察不规则形状试样的各个区域带来很大的便利。

扫描电镜之电子探针的试样要求

试样尺寸 扫描电镜

所分析的试样应为块状或颗粒状，其尺寸要根据不同仪器的试样架大小而定。定量分析的试样要均质，厚度通常应大于5μm。例如对JCXA-733 电子探针仪，试样尺寸为Φ32mm×25mm。EPMA-8705 电子探仪所允许的试样尺寸为102mm×20mm。由于电子探针是微区分析，分析区域是几个立方微米，电子束扫描分析和图像观察区域与放大倍数有关，但也不会超过5mm。所以均匀试样没有必要做得很大，有代表性即可。

如果试样均匀，在可能的条件下，试样应尽量小，特别对分析不导电试样时，小试样能改善导电性和导热性能。